G07900 - SEMI G79 - Specification for Overall Digital Timing Accuracy Revision:SEMI G79-0200 - Inactive The purpose of this Document

The purpose of this Document is to provide guidelines for organosilicate precursors used in Low K CVD processes and to standardize testing procedures to support those requirements

This method is intended for the application of the Karl Fischer titration to the determination of water in photoresists

スケジューリングコンポーネントは装置のアイドルタイムを減らすため，（サブストレートおよび耐久材に関する）材料搬送と処理を調整することによって所用時間（TAT）を最小限に抑えることができる。スケジューリングコンポーネントはセットアップタイムを最小限にするように活動を並べることができる。予定された装置ダウンタイムおよび予定外の装置ダウンタイムに対応して所用時間への影響を最小限にすることもできる。TAT全体を最小限に抑えるだけでなく，緊急ロットのプライオリティに対応するため，緊急ロットを可能な限り短い時間でプロセスフロー内を移動させ，それによって影響を受けるプライオリティの低いロットのスケジューリングを調整することもできる。

This Standard is intended to set levels of specification for glass substrates to insure repeatable manufacture of flat panel displays and uniformity of substrates from all vendors

This safety guideline identifies preferred methods for the protection of persons from safety and health hazards as they perform work on or around equipment used for semiconductor or FPD manufacturing

G07900 - SEMI G79 - Specification for Overall Digital Timing Accuracy Revision:SEMI G79-0200 - Inactive The purpose of this DocumentThis Standard was technically approved by the global Automated Test Equipment Technical Committee. This edition was approved for publication by the global Audits and Reviews Subcommittee on December 24, 2011. Available at www. semiviews. org and www. semi. org in May 2012; originally published February 2000. This Standard is intended to provide a minimum common definition of timing accuracy specifications for semiconductor automatic test equipment